未来 $e^+e^-$ 对撞机上顶夸克 Yukawa 耦合的测定前景

我们估计了未来 $e^+e^-$ 对撞机对顶夸克 Yukawa 耦合 $y_t$ 的灵敏度。我们超越了聚焦于 $t\bar t h$ 产生过程的标准方法，考虑了含 Higgs 玻色子但不含顶夸克的最终态。此类过程中对 $y_t$ 的灵敏度来源于 Higgs 玻色子与圈中顶夸克的耦合。此类最终态在所有拟议的 $e^+e^-$ 对撞机可触及的质心能量下均可大量产生。在一个用于参数化偏离标准模型的简化理论框架中，我们发现，在 $\sqrt{s}=240$ GeV 运行的 FCC-$ee$ 和 CEPC 上，$y_t$ 有可能以优于 $1\%$ 的精度被测量。与仅从 $t\bar t h$ 最终态提取相比，CLIC 和 ILC 对 $y_t$ 的提取可分别改善约 2 倍和 7 倍。