射电弱引力透镜的前景：基于 ELAIS-N1 场 LOFAR 观测的研究

我们在欧洲大面积红外空间天文台巡天-北 1（ELAIS-N1）场内，对低频阵列（LOFAR）射电源和超广角相机（HSC）光学源进行了形状与弱引力透镜分析。仅使用 HSC 数据，我们在约 6.4 平方度区域以约 $9\sigma$ 的显著性探测到了宇宙剪切相关信号。对于射电数据集，我们分析了来自 LOFAR 两米巡天（LoTSS）和国际 LOFAR 望远镜（ILT）的观测。虽然 LoTSS 提供了 ELAIS-N1 最深的射电成像，其中心源面密度约为 2.7 个/平方角分，但其 $6^{\prime\prime}$ 的分辨率限制了形状测量的精度。但是，使用与 LoTSS 匹配的 HSC 源，我们表明准确的射电形状测量将使我们能够以至少约 $2\sigma$ 的显著性测量剪切相关函数的振幅。相比之下，该场的 ILT 观测提供了更优的 $0.3^{\prime\prime}$ 分辨率。通过对 HSC 和 ILT 样本进行交叉匹配，我们测量到位置角相关 $R_{\cos(2\alpha)} = 0.15 \pm 0.02$。这一结果突显了 ILT 分辨延展与漫发射的能力。目前的 ILT 观测缺乏稳健的弱引力透镜测量所需的深度。为了评估 ILT 的潜力，我们使用了增加观测时长的模拟数据。我们的分析表明，在 3200 小时的 ILT 观测或更深的数据下，并假设统计误差主导系统误差，可以以中等显著性探测到剪切相关。要实现这一点，将需要精确的射电剪切测量和有效的点扩散函数（PSF）系统误差缓解。