腔 QED 系统中通过可见度直接测量并发度的方案
量子物理
2009-11-13 v2
摘要
提出了一种实验方案，允许直接测量双量子比特腔系统的并发度。该方案基于使用飞行量子比特原子的腔 QED 技术，并依赖于原子概率的双粒子可见度与腔系统并发度之间的恒等关系。该方案适用于双量子比特腔系统的任意任意纯初始态。
引用
@article{arxiv.0804.2943,
title = {Proposal for direct measurement of concurrence via visibility in a cavity QED system},
author = {Sang Min Lee and Se-Wan Ji and Hai-Woong Lee and M. Suhail Zubairy},
journal= {arXiv preprint arXiv:0804.2943},
year = {2009}
}
备注
To appear in Physical Review A as a Rapid Comminication