EUV成像光谱仪（EIS）狭缝观测的性质
太阳与恒星天体物理
2022-07-20 v1 天体物理仪器与方法
摘要
搭载于Hinode航天器上的极紫外成像光谱仪（EIS）自2006年以来一直在运行，返回170-212和246-292 Å波长区域的高分辨率数据。EIS有四种狭缝选项，其中窄的1"和2"狭缝用于光谱学，宽的40"和266"狭缝用于单色成像。本文利用形成于1.5 MK的Fe XII 195.12 Å谱线测量了40"狭缝（或称slot）的若干性质。狭缝在探测器上的投影宽度沿狭缝有微小变化，平均值为40.949"。狭缝图像在探测器上倾斜，并给出描述该倾斜的二次公式。该倾斜对应于探测器上的四个像素，且狭缝中心相对于1"狭缝主要向右（较长波长）偏移最多四个像素。对狭缝边缘强度下降的测量得出了图像在x方向空间分辨率的估计。分辨率沿狭缝呈二次变化，在靠近探测器中心处最小值为2.9"。发现由狭缝图像测得的强度平均比同一空间位置由1"狭缝测得的强度高14%。在宁静太阳和日冕洞区域，背景扣除是推导准确强度所必需的。给出了针对不同类别狭缝数据集推导准确狭缝强度的规范。
引用
@article{arxiv.2203.14161,
title = {Properties of EUV Imaging Spectrometer (EIS) Slot Observations},
author = {Peter R. Young and Ignacio Ugarte-Urra},
journal= {arXiv preprint arXiv:2203.14161},
year = {2022}
}
备注
Submitted to Solar Physics journal; 22 pages; 7 figures; comments welcome!