含负折射率材料的周期性损耗多层结构中缺陷模的性质
光学
2013-11-12 v1
摘要
利用特征矩阵法，研究了由负折射率层与正折射率层构成、且在晶体中心含一无损缺陷层的一维损耗光子晶体的透射性质。结果表明，随着缺陷层折射率与厚度的增加，缺陷模频率降低。此外，缺陷模频率对入射角、偏振以及缺陷层的物理性质敏感，但对小的晶格损耗因子不敏感。缺陷模的高度对损耗因子、入射角、偏振以及缺陷层的折射率和厚度极为敏感。结果还表明，缺陷模的高度与宽度受晶格周期数与损耗因子的影响。这些结果可用于设计新型窄带滤波器结构及其他光学器件。
引用
@article{arxiv.1301.6109,
title = {Properties of defect modes in periodic lossy multilayer with negative index materials},
author = {Alireza Aghajamali and Mahmood Barati},
journal= {arXiv preprint arXiv:1301.6109},
year = {2013}
}
备注
15 pages, 13 figures