死时间效应导致 Sco X-1 计数率出现毫秒级凹陷
天体物理学
2009-11-13 v1
摘要
Chang 等人 (2006) 报道了 Sco X-1 的 X 射线强度中存在持续毫秒级的凹陷，并将其归因于小型海外天体 (TNOs) 对源的掩食。我们发现了多条证据表明这些凹陷并非源于天文现象，而是 RXTE PCA 探测器中高能带电粒子事件的结果。我们对 RXTE 数据的分析表明，观测到的 Sco X-1 凹陷中至多有 10% 可能是由 TNOs 掩食造成的，此外，我们没有发现任何支持其中任何一次凹陷是由 TNOs 引起的正面或佐证证据。因此，我们认为得出已通过 Sco X-1 掩食探测到任何 TNOs 的结论是错误的。
引用
@article{arxiv.0710.0837,
title = {Production of Millisecond Dips in Sco X-1 Count Rates by Dead Time Effects},
author = {T. A. Jones and A. M. Levine and E. H. Morgan and S. Rappaport},
journal= {arXiv preprint arXiv:0710.0837},
year = {2009}
}
备注
Submitted to ApJ; uses emulateapj.cls, 8 pages with 8 figures