通过精密相位测量探测虚轴子样粒子：时变磁场背景

我们提出了一种通过光学腔探测离壳轴子样粒子（ALPs）效应的实验方案。在该方案中，线偏振光子被泵浦进入一个存在外部时变磁场的光学腔。磁场介导了腔光子与ALPs之间的相互作用，导致腔光子的相位发生改变。外部磁场的时变特性引发了一种新颖的放大效应，显著增强了这种相位改变。随后，我们提出了一种探测方案来识别这种轴子引起的相移。我们发现，对于质量范围在 $3.1\:\mu\textrm{eV}\leqslant m_a \leqslant 44.4\:\mu\textrm{eV}$ 的ALPs，相位改变对光子-ALPs耦合常数 $g_{a\gamma\gamma}$ 相当敏感。