利用修饰喷注探测横动量分布

本文给出了 $e^+e^-$ 对撞和半单举深度非弹性散射（SIDIS）中双喷注事件的修饰喷注横动量谱。喷注使用 soft-drop 修饰算法进行修饰，该算法有助于减轻非全局对数和底层事件的影响。同时，通过减少末态强子化效应，它为横动量依赖（TMD）分布演化中的非微扰部分提供了干净的访问途径。在 SIDIS 实验中，我们研究了在 Breit 参考系中相对于入射强子测量的修饰喷注的横动量。由于末态强子化效应显著减少，SIDIS 情形允许探测 TMD 部分子分布函数。我们讨论了低横动量区域的非微扰效应来源，包括由修饰引起的（微小的）新效应。我们在 SCET 内推导了因子化定理，并使用在 artemide 包中实现的 $\zeta$-prescription 将所测横动量中的任意大对数重和至 NNLL 精度，并与模拟结果进行了比较。