探测精细结构常数的时间变化：基于 UVES 样本 Si IV 双线的结果
天体物理学
2009-11-10 v2 广义相对论与量子宇宙学
高能物理 - 唯象学
加速器物理
摘要
我们报告了基于从 ESO-UVES 样本中选取的 15 个 Si IV 双线分析得出的精细结构常数变化的新约束。我们在 1.59 < z < 2.92 的红移范围内发现 \Delta\alpha/\alpha = (+0.15+/-0.43) x 10^-5，这与 \alpha 无变化一致。与文献中已发表的结果相比，该结果基于 Si IV 双线对 \Delta\alpha/\alpha 的约束改进了三倍。这里使用的碱金属双线方法避免了多多重线方法中使用的隐含假设，即化学和电离不均匀性可忽略不计，且同位素丰度接近地球值。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0408200,
title = {Probing the time-variation of the fine-structure constant: Results based on Si IV doublets from a UVES sample},
author = {Hum Chand and Patrick Petitjean and Raghunathan Srianand and Bastien Aracil},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0408200},
year = {2009}
}
备注
12 Pages, 7 figures. Accepted for publication in A&A. In addition to minor corrections an appendix is added in this revised version