利用电荷输运探测中性马约拉纳费米子边缘模

我们提出了两个实验来探测在拓扑绝缘体表面上的超导体与磁体结处出现的马约拉纳费米子边缘态。通过将两个马约拉纳费米子组合成磁畴壁上的单个狄拉克费米子，使得中性马约拉纳费米子能够通过电荷输运被探测。我们将讨论一种用于马约拉纳费米子的新型干涉仪，该干涉仪探测其Z_2相位。该装置还允许测量中性马约拉纳费米子通过点接触的透射。我们引入了一个由超导结形成的点接触，并表明其透射率可以通过结两端的相位差来控制。我们讨论了利用最近发现的拓扑绝缘体Bi_2 Se_3进行这些实验的可行性。