利用高光谱分辨率 X 射线成像仪在短时标上探测极端黑洞外流
高能天体物理现象
2024-05-16 v2 天体物理仪器与方法
摘要
我们研究黑洞系统中的外流以及超爱丁顿与亚爱丁顿吸积体制下的物理过程。我们的重点是利用下一代高分辨率软 X 射线仪器开展的前瞻性科学。我们特别强调了黑洞超亮 X 射线源(ULX)系统的性质。由于吸积黑洞的尺度不变性,ULX 的吸积性质(包括其外流)不仅有助于我们理解密切相关的(相似质量)X 射线双星系统族,也有助于理解超大质量黑洞周围的潮汐撕裂事件(TDEs)。一部分 TDEs 在演化过程中可能从超爱丁顿跨越到亚爱丁顿体制,从而提供了与 ULX 及亚爱丁顿 X 射线双星相统一的重要类比。我们展示了分辨本领 > 1000、收集面积 > 1000 cm^2 的下一代软 X 射线观测如何同时识别超快和更典型的风成分、区分不同的风机制,并在特征变率时标上约束变化中的风性质。
引用
@article{arxiv.2310.15997,
title = {Probing extreme black-hole outflows on short timescales via high spectral-resolution X-ray imagers},
author = {Ciro Pinto and James F. Steiner and Arash Bodaghee and Priyanka Chakraborty and Malgosia Sobolewska and Dheeraj R. Pasham and Anna Ogorzalek and John Zuhone and Akos Bogdan and Mark Vogelsberger},
journal= {arXiv preprint arXiv:2310.15997},
year = {2024}
}
备注
19 pages, 8 figures