YBa2Cu4O8和最佳掺杂YBa2Cu3O7-δ中的压力诱导晶格不稳定性和超导电性

结合同步辐射角度色散粉末衍射和显微拉曼光谱，研究了YBa$_2$Cu$_4$O$_8$中伴随T$_c$异常的压力诱导晶格不稳定性，并与最佳掺杂的YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$和非超导的PrBa$_2$Cu$_3$O$_{6.92}$进行了比较。在前两个超导体系中，晶格参数的演化存在明显的异常，并且从约3.7 GPa开始晶格无序增加，同时出现不可逆性并导致滞后。相反，在Pr化合物中，晶格参数在高达7 GPa的压力下很好地遵循预期的状态方程(EOS)。与结构数据完全一致，超导化合物的显微拉曼数据显示，A$_g$声子的能量和宽度在晶格参数偏离EOS且平均Cu2-O$_{pl}$键长表现出强烈收缩的相同压力范围内出现异常，并与T$_c$的非线性压力依赖性相关。非超导Pr样品的情况并非如此，这清楚地表明与载流子存在关联。看来接近最佳掺杂的铜氧化物处于晶格不稳定的边缘。