$^{210}$Bi $\beta$ 能谱的精确测量

I. E. Alekseev; S. V. Bakhlanov; A. V. Derbin; I. S. Drachnev; I. M. Kotina; I. S. Lomskaya; V. N. Muratova; N. V. Niyazova; D. A. Semenov; M. V. Trushin; E. V. Unzhakov

doi:10.1103/PhysRevC.102.064329

$^{210}$Bi $\beta$ 能谱的精确测量

核实验 2021-01-12 v2 高能物理 - 实验高能物理 - 唯象学核理论仪器与探测器

作者: I. E. Alekseev , S. V. Bakhlanov , A. V. Derbin , I. S. Drachnev , I. M. Kotina , I. S. Lomskaya , V. N. Muratova , N. V. Niyazova , D. A. Semenov , M. V. Trushin , E. V. Unzhakov

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摘要

基于半导体 Si(Li) 探测器的谱仪对 $^{210}$ Bi（历史上称为 RaE）的 $\beta$ 能谱形状进行了精确测量。这一首次禁戒非唯一跃迁的跃迁形状因子强烈偏离于 1，且其能谱的知识在存在 $^{210}$ Pb 本底的低本底物理中将发挥重要作用。测得的跃迁形状因子可近似为 $S(W) = 1 + (-0.4363 \pm 0.0037) W + (0.0523 \pm 0.0010) W^2$ ，这与先前的研究吻合良好，且参数精度显著提高。

关键词

$\beta$ 能谱 $^{210}$Bi 半导体探测器跃迁形状因子首次禁戒非唯一跃迁低本底物理

引用

@article{arxiv.2005.08481,
  title  = {Precision measurement of $^{\mathbf{210}}$Bi $\beta$-spectrum},
  author = {I. E. Alekseev and S. V. Bakhlanov and A. V. Derbin and I. S. Drachnev and I. M. Kotina and I. S. Lomskaya and V. N. Muratova and N. V. Niyazova and D. A. Semenov and M. V. Trushin and E. V. Unzhakov},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2005.08481},
  year   = {2021}
}

备注

8 pages, 6 figures

$^{210}$Bi $\beta$ 能谱的精确测量

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