AMS-02正电子谱中可能存在的谱不规则性

许多实验（如PAMELA和AMS-02）观测到的电子和正电子谱超出，引发了重要的理论探讨。从谱特征上区分暗物质湮灭/衰变和脉冲星这两种主要假说并不容易。如果脉冲星是这种超出的来源，其分布预期的变化可能在正电子能谱中引入明显的不规则性。在本研究中，我们使用一种不规则性估计器来检测AMS-02正电子能谱中的这些潜在特征。我们对当前AMS-02数据的分析揭示了这些谱不规则性，统计显著性为$1.75\sigma$。然而，我们的预测表明，利用AMS-02在20年期间收集的数据，在71%的模拟中，这些不规则性可以在$3\sigma$置信水平下被识别。