掺杂C60中的极化子激发：无序效应

声子热涨落、晶体中C$_{60}$分子的错位以及其他插层杂质（残余C$_{70}$、氧等）对C$_{60}$的影响通过无序势进行模拟。我们采用高斯键无序和位点无序求解了掺杂C$_{60}$的Su-Schrieffer-Heeger型电子-声子模型。对足够数量的无序构型进行了样本平均。展示了键长和电子密度的分布随无序强度和附加电子数的变化。研究了极化子激发的稳定性以及二聚化模式。在轻掺杂情况（C$_{60}^{-1,-2}$）下，极化子和二聚化相对稳定于无序，这由分布函数中的峰结构所表明。在更重掺杂的情况下，几个峰合并为一个峰，表明极化子结构的破坏以及二聚化强度的降低。讨论了在掺杂C$_{60}$中观察极化子晶格畸变和电子结构的可能性。