利用固/流界面折射的 PIV 测量
流体动力学
2020-09-04 v1
摘要
提出利用流体/窗口界面处的激光光片折射来进行荧光 PIV 测量，尤其适用于光学接入受限、难以用平面准直光片照射流场的情形。通过光线追迹对本测量方法中的激光光片传播进行研究，以量化照明强度。为描述所发展 PIV 版本（R-PIV）的局限性，我们提出一种用于分析图像对的互相关模型（CCM），其是 -PIV 或 P-PIV 技术中所用模型的扩展。该互相关模型考虑了 R-PIV 的光学约束，如 1) 物平面处光片折射的纵深与纵向不均匀性，或 2) 示踪粒子荧光在深度方向的积分。在具有已知解析解的管流情形下，进一步将这种折射式 PIV（R-PIV）与 P-PIV 技术进行比较。最后，在已知理论流速、流场照明及示踪流参数的情况下，应用我们扩展的互相关模型函数来分析确定真实流场速度场中的若干误差水平。
引用
@article{arxiv.2009.01608,
title = {PIV measurements using refraction at a solid/fluid interface},
author = {Damien Cabut and Marc Michard and Serge Simoens and Violaine Todoroff and Corentin Hermange and Yohan Le Chenadec},
journal= {arXiv preprint arXiv:2009.01608},
year = {2020}
}
备注
40 pages, 27 figures. This is the version of the article before peer review or editing, as submitted by an author to Measurement Science and Technology. IOP Publishing Ltd is not responsible for any errors or omissions in this version of the manuscript or any version derived from it