PICTS：面向扫描探针显微镜动态 P-I 控制的新型深度强化学习方法
材料科学
2025-02-12 v1 机器学习
应用物理
摘要
我们开发了一套平行集成控制与训练系统，利用深度强化学习技术，实时动态调整扫描探针显微镜技术的控制策略。
引用
@article{arxiv.2502.07326,
title = {PICTS: A Novel Deep Reinforcement Learning Approach for Dynamic P-I Control in Scanning Probe Microscopy},
author = {Ziwei Wei and Shuming Wei and Qibin Zeng and Wanheng Lu and Huajun Liu and Kaiyang Zeng},
journal= {arXiv preprint arXiv:2502.07326},
year = {2025}
}
备注
21 pages, 6 figures