磁性异构结构中电流诱导开关角偏移的物理起源
介观与纳米尺度物理
2025-09-10 v1 材料科学
摘要
对自旋轭流 (SOT) 的精确量化对于识别和应用新的自旋轭效应至关重要。最流行的 SOT 鉴定技术是开关角偏移，该技术假设直流电通过域壁脱钩（在大旋转磁场下沿反域扩展）将垂直磁化的开关角以线性比例方式偏移。然而，我们报告说，对于最常使用的垂直磁化异构结构（例如基于 FeCoB、Co 或 Co/Ni 多层结构的异构结构），开关角偏移在域壁脱钩分析中严重低估了 SOT，并且可能在零直流电下仍有非零残差值。我们的实验和模拟揭示，开关角偏移很可能主要由旋性非对称核化而非反域扩展所主导。来自外部磁场和电流诱导的 SOT 降低垂直核化场，从而降低所需的开关角，最终导致通过域壁脱钩分析对 SOT 的低估。这些结果推进了对自旋电子器器件磁化开关的理解。
引用
@article{arxiv.2509.07844,
title = {Physical origin of current-induced switching angle shift in magnetic heterostructures},
author = {Xiaomiao Yin and Guanglei Han and Guowen Gong and Jun Kang and Changmin Xiong and Lijun Zhu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2509.07844},
year = {2025}
}