中文

利用双折射晶体进行弱值放大实验的统计假设检验的物理描述

量子物理 2015-08-24 v2

摘要

我们从Susa和Tanaka提出的弱值放大统计假设检验的视角[Y. Susa和S. Tanaka, Phys. Rev. A 92, 012112 (2015)],研究了Ritchie等人演示的弱测量实验[N. W. M. Ritchie, J. G. Story, and R. G. Hulet, Phys. Rev. Lett. 66, 1107 (1991)]。我们得出结论,当两个偏振器的角度几乎正交时,弱值放大是确定实验所用晶体是否具有双折射性的比无后选择测量更好的方法。这一结果给出了假设检验的物理描述和直观理解,并支持弱值放大的实验实用性。

关键词

引用

@article{arxiv.1505.07199,
  title  = {Physical description of statistical hypothesis testing for a weak-value amplification experiment using a birefringent crystal},
  author = {Yuki Susa},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1505.07199},
  year   = {2015}
}

备注

6 pages, 2 figure