从 QSR 吸收体的细结构吸收线推导物理条件
天体物理学
2009-10-31 v1
摘要
我们计算了一些原子/离子在 QSR 吸收体中(位于 Ly-alpha 森林红侧)典型会呈现 UV 吸收线的基态细结构能级的人口比值:C0、C+、O0、Si+ 和 Fe+。我们采用目前最可靠的原子数据,并考虑多种激发机制:与介质中多种粒子的碰撞、来自宇宙微波背景辐射(CMBR)的直接光子激发以及由 UV 场引起的荧光。我们将理论人口比值与文献中收集的在阻性 Ly-alpha (DLA) 和 Lyman Limit (LL) 系统中观测到的 C I 与 C II 吸收线列密度比值进行对照,以推导其物理条件。DLA 系统中中性氢的体积密度受限于小于十个 cm^-3(最佳情形下为几个 cm^-3),且 UV 辐射场强度必须低于银河系辐射场强度两个数量级(最佳情形下为一个数量级)。其特征尺寸大于几 pc(最佳情形下为十几 pc),且总质量下限范围从 到 太阳质量。对于本样本中唯一的 LL 系统,电子密度受限为 cm^-3。我们指出,细结构吸收线可能用于区分当前主流观点(即 UV 外域背景辐射作为这些系统中电离源)与某些作者支持的局部来源电离辐射。我们还探讨了标准模型预测的 CMBR 温度-红移关系的有效性,并研究另类模型的情况。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0012323,
title = {Physical conditions in QSO absorbers from fine-structure absorption lines},
author = {A. I. Silva and S. M. Viegas},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0012323},
year = {2009}
}
备注
16 pages, 12 figures