面向移动设备的 TEE 物理与软件基础故障注入攻击：知识系统化综述
密码学与安全
2024-11-25 v1
摘要
受信任执行环境 (TEE) 是现代安全计算的关键组件，提供处理器中的隔离区域，以保护敏感数据并执行安全操作。尽管其重要性不言而喻，但 TEE 正日益暴露于故障注入 (FI) 攻击，包括物理方法（如电磁场故障注入，EMFI）和软件方法。本综述检视了这些 FI 方法，探讨其能够干扰 TEE 操作并暴露来自智能手机、物联网系统到云平台的设备漏洞。该研究突出了非侵入式技术（如 EMFI）的演变和有效性，这类技术通过电磁扰动诱导故障，而无需对硬件进行物理修改，使其更难检测和缓解。实际案例研究揭示了这些攻击所构成的重大风险，包括未授权访问、特权升级和数据破坏。此外，综述确定了现有 TEE 安全架构中的漏洞，强调需要增强对抗措施（如动态异常检测和更新威胁模型）的需求。研究结果凸显了跨学科合作的重要性，以解决这些漏洞，涉及研究人员、制造商和政策制定者。这项综述提供了可操作的见解和建议，以指导开发更稳健的移动设备 TEE 架构、增强 FI 韧性并塑造全球安全标准。通过推进 TEE 安全，本研究旨在保护关键数字基础设施，维持全球安全计算系统的信任。
引用
@article{arxiv.2411.14878,
title = {Physical and Software Based Fault Injection Attacks Against TEEs in Mobile Devices: A Systemisation of Knowledge},
author = {Aaron Joy and Ben Soh and Zhi Zhang and Sri Parameswaran and Darshana Jayasinghe},
journal= {arXiv preprint arXiv:2411.14878},
year = {2024}
}
备注
25 pages