光热单粒子显微术
光学
2015-05-28 v1
摘要
光热显微术近来通过检测单个纳米物体的吸收，补充了单分子荧光显微术。光热技术通过利用吸收纳米物体周围热致折射率变化来获得卓越的灵敏度。已有大量关于纳米颗粒、纳米棒甚至单分子的新应用报道，均将光热显微术视为对热致折射率分布的一种消光测量。本文中，我们证明单分子/粒子产生光热信号的实际物理机制与假定的消光测量有根本性不同。结合光热显微术、光散射显微术以及对单个金纳米颗粒的精确 Mie 散射计算，我们揭示了该检测机制可由长程折射率分布的纳米透镜效应定量解释。我们的结果为单分子吸收显微术的未来发展和定量应用奠定了基础。
引用
@article{arxiv.1105.3815,
title = {Photothermal Single Particle Microscopy},
author = {Markus Selmke and Marco Braun and Frank Cichos},
journal= {arXiv preprint arXiv:1105.3815},
year = {2015}
}
备注
main manuscript (5 figures), 1 supplement (3 figures)