激子的光发射谱特征
介观与纳米尺度物理
2018-06-19 v2 材料科学
摘要
激子——由半导体系统中局域电子-空穴态组成的粒子-空穴束缚态——对解释光学谱至关重要。谱学测量可包含这些两粒子束缚态的特征,并对确定激子特性特别有用。我们给出了一个表达式,用于计算半导体中给定稳态分布的激子电离所产生的角分辨光发射谱。我们表明该谱包含关于半导体直接/间接带隙性质的信息,并位于导带底之下、偏移结合能处。谱的色散特征包含价带的残余,而不同的激子分布产生额外的有趣特征。我们的结果表明,对于大多数激子概率分布,能量积分光发射谱可提供激子玻尔半径的估计。
引用
@article{arxiv.1802.07270,
title = {Photoemission signature of excitons},
author = {Avinash Rustagi and Alexander F. Kemper},
journal= {arXiv preprint arXiv:1802.07270},
year = {2018}
}
备注
8 pages, 6 figures