基于子空间跟踪的 Cr:ZnS 频率 comb 相位噪声表征
光学
2024-09-04 v1 信号处理
摘要
本文对中红外 Cr:ZnS 频率 comb 进行了详尽的相位噪声表征。尽管这些 comb 作为高分辨率双 comb 光谱学平台而逐渐出现，但关于 Cr:ZnS comb 相位噪声的详细调查仍不足。为此，我们采用一种新近提出的相位噪声测量技术，利用多异频检测和子空间跟踪。这使得能够使用单一测量装置测量 common mode、重复率和高阶相位噪声项及其作为 comb 线编号函数的对应标度。我们表明，待测试的 comb 受 common mode 相位噪声主导，其他所有相位噪声项均低于测量噪声底(~ -120 dB rad^2/Hz)，因此不可辨识。
引用
@article{arxiv.2409.01850,
title = {Phase Noise Characterization of Cr:ZnS Frequency Comb using Subspace Tracking},
author = {Aleksandr Razumov and Sergey Vasilyev and Mike Mirov and Jasper Riebesehl and Holger R. Heebøll and Francesco Da Ros and Darko Zibar},
journal= {arXiv preprint arXiv:2409.01850},
year = {2024}
}