多路复用 XY 电阻式 Micromegas 探测器在高强度束流中的性能
仪器与探测器
2018-03-14 v1 高能物理 - 实验
摘要
我们展示了在 CERN SPS 100 GeV/c 电子束流中测试的多路复用 XY 电阻式 Micromegas 探测器的性能，束流强度最高达 3.3 10 e/(scm)。迄今为止，所有关于多路复用 Micromegas 的研究仅限于放射性源和宇宙射线的测试。由于多路复用特性导致的击中点重建中的歧义效应，多路复用模块在高强度环境中的应用尚未被探索。在本文分析的束流强度下且多路复用因子为 5 时，引入了超过 50% 的歧义水平。我们的结果证明，通过使用 XY 条上感应的信号簇的簇大小和积分电荷的附加信息，可以将歧义降低至 2% 以下的水平。所测试的探测器用于 CERN NA64 实验中，以追踪在磁场中偏转的入射粒子，从而重建其动量。在最高束流强度下，发现每个模块的平均击中探测效率约为 96%。通过使用四个模块，获得了 1.1% 的径迹分辨率，且组合径迹效率约为 85%。
引用
@article{arxiv.1708.04087,
title = {Performance of Multiplexed XY Resistive Micromegas detectors in a high intensity beam},
author = {D. Banerjee and V. Burtsev and A. Chumakov and D. Cooke and E. Depero and A. V. Dermenev and S. V. Donskov and F. Dubinin and R. R. Dusaev and S. Emmenegger and A. Fabich and V. N. Frolov and A. Gardikiotis and S. N. Gninenko and M. Hösgen and A. E. Karneyeu and B. Ketzer and M. M. Kirsanov and I. V. Konorov and V. A. Kramarenko and S. V. Kuleshov and E. Levchenko and V. E. Lyubovitskij and V. Lysan and S. Mamon and V. A. Matveev and Yu. V. Mikhailov and V. V. Myalkovskiy and V. D. Peshekhonov and D. V. Peshekhonov and V. A. Polyakov and B. Radics and A. Rubbia and V. D. Samoylenko and V. O. Tikhomirov and D. A. Tlisov and A. N. Toropin and B. Vasilishin and G. Vasquez Arenas and P. Ulloa and P. Crivelli},
journal= {arXiv preprint arXiv:1708.04087},
year = {2018}
}