片上散斑光谱仪的性能极限
光学
2025-10-13 v1
摘要
基于无序驱动的集成散斑光谱仪在紧凑设计中提供了优异的光谱分辨率。它们受益于多次光散射事件带来的增强光程，但通常以低光通量为代价。本文通过系统变化随机均匀无序分布的散射强度，研究了这两个性能指标之间的关系。此外，我们还研究了此类光谱仪的温度稳定性。研究表明，设备分辨率可在 2 nm 至 20 pm 之间调节，工作温度范围为 1 至超过 6 度，光通量可变化超过 10 倍，为面向应用定制的微尺度高分辨率光谱仪设计铺平了道路。
引用
@article{arxiv.2510.09077,
title = {Performance limit of on-chip speckle spectrometers},
author = {Bhupesh Kumar and Graham D. Bruce and Luca Dal Negro and Sebastian A. Schulz},
journal= {arXiv preprint arXiv:2510.09077},
year = {2025}
}
备注
11 pages, 7 figures