存在 EMI 与信道老化的 RIS 辅助 MISO 系统性能分析
信息论
2024-05-16 v1 math.IT
摘要
本文研究了在存在电磁干扰（EMI）和信道老化的情况下，基站（BS）与用户设备（UE）之间采用 Rician 衰落信道模型的可重构智能表面（RIS）辅助多输入单输出（MISO）系统。具体而言，我们推导了采用最大比传输（MRT）预编码的下行链路频谱效率（SE）的闭式表达式。Monte-Carlo 仿真支持了理论结果，表明在 Rician 衰落信道中放大视距分量的权重可以提升 SE，而 EMI 则具有不利影响。此外，当存在 EMI 时，持续增加 RIS 元件数量并非最优选择。尽管如此，可以部署 RIS 以补偿由信道老化效应引起的 SE 退化。最后，增大 RIS 元件的尺寸可以显著提升系统性能。
引用
@article{arxiv.2405.09200,
title = {Performance Analysis of RIS-aided MISO Systems with EMI and Channel Aging},
author = {Taoyu Song and Enyu Shi and Yu Lu and Yiyang Zhu and Jiayi Zhang and Bo Ai},
journal= {arXiv preprint arXiv:2405.09200},
year = {2024}
}