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条纹化装置分辨率的优化

加速器物理 2024-05-03 v1

摘要

在低 γ\gamma 区,穿过横向偏转结构(TDS)漂移期间不可避免的诱导能散与纵向色散相结合,会改变待表征粒子束的相空间。由此产生的束团伸长即使在高可用条纹化功率乃至理论分辨率下,也会使超短束团的测量变得不可能。本文中,对 TDS 由此产生的有效分辨率进行了解析估计,并确定了最优条纹化电压。随后利用基于矩阵的粒子跟踪对结果进行了基准测试。此外,还讨论了实际条纹化装置中额外的横向以及其他限制分辨率的影响。评估了一种使用额外下游聚焦元件的潜在缓解方案。

关键词

引用

@article{arxiv.2307.14796,
  title  = {Optimization of the Resolution of a Streaking Setup},
  author = {F. Mayet and K. Floettmann},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2307.14796},
  year   = {2024}
}