中子自旋检验量子芝诺效应的优化
量子物理
2007-05-23 v1
摘要
从中实际出发讨论了中子自旋对量子芝诺效应（QZE）的实验检验，其中考虑了用于滤出自旋态的磁镜非理想效率。在理想情形下，可无限增大（理想）磁镜数 N，从而获得愈佳的 QZE。相反，在使用非理想磁镜的实际情形中，存在一个最优磁镜数 N_opt，此时 QZE 达到最大：更频繁的测量反而会恶化性能。然而定量表明良好的 QZE 实验检验仍可行。这些结论具普遍有效性：在实际实验中，损耗与缺陷的存在导致一个通常为有限的最优频率 N_opt。不应将 N 增至超过 N_opt。推导了在广泛框架下作为表征实验装置参数函数的 N_opt 的便捷公式。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0301068,
title = {Optimization of a Neutron-Spin Test of the Quantum Zeno Effect},
author = {Paolo Facchi and Yoichi Nakaguro and Hiromichi Nakazato and Saverio Pascazio and Makoto Unoki and Kazuya Yuasa},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0301068},
year = {2007}
}
备注
8 pages, 3 figures