光学衍射-渡越辐射干涉测量法及其在束流发散度测量中的应用
加速器物理
2007-05-23 v1
摘要
光学渡越辐射干涉测量法（OTRI）已被证明是测量能量在15-100 MeV范围内电子束发散度的非常有用的技术。然而，该方法在低能量或高质量束流中的应用受到干涉仪前箔散射的限制。为了克服这一限制，我们提出使用带孔的前箔。对于我们考虑的束流能量和孔径尺寸，穿过孔洞的未散射束流电子将产生衍射辐射（ODR）。由第一和第二箔产生的总辐射将是来自未散射和散射电子的ODR和OTR的空间相干和。通过控制穿孔的数量和大小、箔间距、第一箔的厚度以及观察辐射的波长和带宽，可以分离并观察到由束流未散射部分产生的相干干涉。这些干涉的可见度随后可用于确定均方根束流发散度。我们开发了一个通用计算机代码，可用于计算任何类型穿孔的衍射辐射，以及另一个代码，用于计算给定束流和光学参数下的ODR-OTR干涉图样。这些代码被用于设计一个干涉仪，以测量在30 MeV下运行的ATF加速器的发散度。该束流将用于ODR-OTR干涉仪的初步原理验证实验。我们展示了代码计算的结果，表明预期的发散度200微弧度可以轻松测量。
引用
@article{arxiv.physics/0112032,
title = {Optical Diffraction-Transition Radiation Interferometry and its Application to the Measurement of Beam Divergence},
author = {A. G. Shkvarunets and R. B. Fiorito and P. G. O'Shea},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0112032},
year = {2007}
}
备注
16 pages,8 Figures, submitted to NIMB, November 30, 2001