窄线和宽线 AGN 中的 X 射线变率

我们组装了一个由 ASCA 观测的宽线和窄线 AGN 样本，确定了其剩余方差。该样本中中心黑洞质量可从反射映射方法和 Hβ 线宽度获得。利用中心黑洞质量和波动亮度，可 также获得 Eddington 比值。我们确认了 Lu 与 Yu 发现的 X 射线变率与中心黑洞质量之间的强反相关性。我们进一步发现，窄线塞伊1型星系 (NLS1s) 也遵循这一关系，散射较大，且 X 射线变率与 Eddington 比值之间仅存在弱相关，这表明NLS1s的快速变率和窄线主要是由于其中心黑洞较小造成的，而非来自于NLS1s 周围的气体差异。发现 H 硬 X 射线光子指数与 Eddington 比值之间存在强相关性。如果Lu 与 Yu提出的AGN中两种不同吸积类（即ADA F和薄盘吸积）的假设正确，那么强光子指数-Eddington 比值相关性表明存在一种两区吸积盘，其中外区为薄盘，内区为 ADAF 盘。否则，吸积过程为薄盘吸积，ADA F 吸积并非必需。