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关于插桩对测试脆弱性的影响

软件工程 2023-03-20 v1

摘要

测试脆弱性是影响测试及依赖测试的过程的一个问题。若干因素导致或影响测试结果的脆弱性。测试执行顺序、随机性和并发性是一些更常见且被充分研究的原因。一些研究提到代码插桩是导致或影响测试脆弱性的一个因素。然而,关于此问题的证据很少。在本研究中,我们试图系统地收集插桩对测试脆弱性影响的证据。我们对 Java 程序的常见插桩类型进行实验——即应用性能监控、覆盖率和性能剖析插桩。然后,我们研究插桩对一组九个程序的影响,这些程序来自一个用于研究测试脆弱性的现有数据集,该数据集由用 Java 编写的流行 GitHub 项目组成。我们观察到真实世界插桩导致程序出现脆弱性的案例。然而,这种影响很少见。我们还讨论了一个相关问题——插桩如何干扰脆弱性检测与预防。

关键词

引用

@article{arxiv.2303.09755,
  title  = {On the Effect of Instrumentation on Test Flakiness},
  author = {Shawn Rasheed and Jens Dietrich and Amjed Tahir},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2303.09755},
  year   = {2023}
}

备注

To appear: In Proceedings of the 2023 ACM/IEEE International Conference on Automation of Software Test (AST)