球-平面构型中导电表面间静电力与卡西米尔力的测量

我们报告了在35 nm至1微米分离范围内，球-平面构型中两个导电表面间作用力的测量。测量通过进行静电校准，随后在减去静电依赖分量后进行残差分析获得。我们发现在所有运行中，校准的最佳拟合指数均小于理想球-平面几何静电学预测的指数。我们还发现，使静电贡献最小化所需的外部偏置电位取决于球-平面距离。尽管存在这些异常，通过实施参数化依赖的静电贡献减法，我们发现了短距离吸引力的证据，其大小与预期的卡西米尔-利夫希茨力相当。最后，我们在卡西米尔-利夫希茨力测量的更一般背景下讨论了我们发现的相关性，特别关注所涉及表面的电学和几何表征这一关键问题。