基于超高Q微谐振器模式分裂的片上单纳米粒子检测与尺寸测量
光学
2010-03-10 v1
摘要
以高分辨率检测和测量单个纳米粒子的能力，对于理解单粒子行为以及有效利用其强烈的尺寸依赖性特性来开发创新产品至关重要。我们报道了利用单片超高Q回音壁模式（WGM）微环芯谐振器中的模式分裂，对单个纳米粒子（小至半径30 nm）进行实时、原位检测与尺寸测量。粒子结合将一个WGM分裂为两个光谱偏移的共振模式，形成一种自参考检测方案。该技术提供了优越的噪声抑制能力，并能够在单次测量中提取精确的尺寸信息。我们的方法既不需要对粒子进行标记，也不需要预先知道它们在介质中的存在，为以单粒子分辨率研究纳米粒子提供了一个有效的平台。
引用
@article{arxiv.0912.0078,
title = {On-chip Single Nanoparticle Detection and Sizing by Mode Splitting in an Ultra-high-Q Microresonator},
author = {Jiangang Zhu and Sahin Kaya Ozdemir and Yun-Feng Xiao and Lin Li and Lina He and Da-ren Chen and Lan Yang},
journal= {arXiv preprint arXiv:0912.0078},
year = {2010}
}
备注
23 pages, 8 figures