多横模集成硅基光学处理器中的片上光相位监测
光学
2022-11-01 v1
摘要
我们在 220 nm 厚硅光子学平台上设计了一种多横模光学处理器（MTMOP），利用前两个准横电模（TE0 和 TE1）。目标是在不使用传统光相位检测技术（例如相干检测）的情况下测量编程该光学处理器所需的光相位。在所提出的设计中，我们使用一种新颖而简单的构建模块，将光相位转换为光功率。TE0 模承载主光信号，而 TE1 模用于编程目的。MTMOP 的运作依赖于 TE0 和 TE1 通过模敏感相移器时群速度不同这一事实。一个非平衡马赫-曾德尔干涉仪（MZI）由两臂中的模敏感和模不敏感相移器组成。我们设定相移器的偏置，使得 TE0 在两臂中建设性干涉，而 TE1 则不然。因此，我们通过测量 TE1 光功率的变化来检测施加于 TE0 的相移。据我们所知，该设计是首个利用多模硅光子学实现具有完全集成编程单元的可编程光学处理器的尝试。
引用
@article{arxiv.2205.10414,
title = {On-chip Optical Phase Monitoring in Multi-Transverse-Mode Integrated Silicon-based Optical Processors},
author = {Kaveh Rahbardar Mojaver and Odile Liboiron-Ladouceur},
journal= {arXiv preprint arXiv:2205.10414},
year = {2022}
}