Suzaku/XIS 获取的软 X 射线弥漫背景中的 OI 荧光谱线污染
高能天体物理现象
2015-06-18 v1
摘要
OVII 谱线强度的定量测量是理解软 X 射线弥漫背景的有力方法。通过对 145 次高纬度 Suzaku/XIS 观测中的 OVII 谱线强度进行系统分析，发现 XIS 能谱中污染 OVII 谱线的 OI 荧光谱线通量随时间呈现增加趋势，尤其是在 2011 年之后。对于这些观测，除非考虑 OI 荧光谱线污染，否则 OVII 谱线强度将被高估。由于 OI 谱线发射源于太阳 X 射线，这种增加表明在 OI 荧光能量处的入射太阳 X 射线往往大于 Suzaku 观测早期阶段（2005 - 2010 年）。
引用
@article{arxiv.1402.1852,
title = {OI Fluorescent Line Contamination in Soft X-Ray Diffuse Background Obtained with Suzaku/XIS},
author = {Norio Sekiya and Noriko Y. Yamasaki and Kazuhisa Mitsuda and Yoh Takei},
journal= {arXiv preprint arXiv:1402.1852},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 4 figures, accepted for publication in PASJ Letters