OGLE-2016-BLG-1045：廉价天基微引力透镜视差的检验
太阳与恒星天体物理
2018-08-15 v2 天体物理仪器与方法
摘要
微引力透镜是一种探测银河系中孤立天体的强大且独特的技术。为基于微引力透镜方法研究这些有趣天体的特征，需要测量微引力透镜视差以确定透镜的性质。在测量微引力透镜视差的各种方法中，最稳健的方式是进行地面与天基同步观测，即通过测量天基微引力透镜视差。然而，天基观测活动通常需要“昂贵”的资源。Gould & Yee (2012) 提出了一种称为“廉价天基微引力透镜视差”的思路，仅利用对高放大率事件的 或 次天基观测即可测量透镜视差。这种具成本效益的测量微引力透镜视差的观测策略可被天基望远镜用于建立研究孤立天体的完整样本。这将实现对质量函数的直接测量，包括极低速质量天体和高质量恒星遗迹。然而，采用该思路需要一项检验以考察其在实际情形中的表现。因此，我们利用高放大率微引力透镜事件 OGLE-2016-BLG-1045 给出该思路的首次实际检验，其中一部分 Spitzer 观测恰好复现了 Gould & Yee (2012) 的方案。由检验我们确认，采用该思路的透镜视差测量具有足以确定孤立透镜物理性质的精度。
引用
@article{arxiv.1801.00169,
title = {OGLE-2016-BLG-1045: A Test of Cheap Space-Based Microlens Parallaxes},
author = {I. -G. Shin and A. Udalski and J. C. Yee and S. Calchi Novati and G. Christie and R. Poleski and P. Mróz and J. Skowron and M. K. Szymański and I. Soszyński and P. Pietrukowicz and S. Kozłowski and K. Ulaczyk and M. Pawlak and T. Natusch and R. W. Pogge and A. Gould and C. Han and M. D. Albrow and S. -J. Chung and K. -H. Hwang and Y. -H. Ryu and Y. K. Jung and W. Zhu and C. -U. Lee and S. -M. Cha and D. -J. Kim and H. -W. Kim and S. -L. Kim and Y. Lee and D. -J. Lee and B. -G. Park and C. Beichman and G. Bryden and S. Carey and B. S. Gaudi and C. B. Henderson and Y. Shvartzvald},
journal= {arXiv preprint arXiv:1801.00169},
year = {2018}
}
备注
7 Figures and 2 Tables, Accepted for publication in the ApJ