在 NISQ 设备上观测量子芝诺效应
量子物理
2025-07-01 v3
摘要
我们在 IBM Quantum Experience 设备上研究了在多次测量作用下单量子比特上的量子芝诺效应(QZE)。我们考虑两种可能情形:拉比演化和自由衰减。同时也应用了 SPAM 误差缓解。在这两种情形下,我们都观测到 QZE 的发生,表现为存活概率随测量次数增加而上升。
引用
@article{arxiv.2310.08317,
title = {Observation of the Quantum Zeno Effect on a NISQ Device},
author = {Andrea Alessandrini and Carola Ciaramelletti and Simone Paganelli},
journal= {arXiv preprint arXiv:2310.08317},
year = {2025}
}