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关于远场显微学与信息论中超分辨率分类的注记

光学 2016-06-17 v1

摘要

近年来,已发展出多种成功克服衍射分辨率极限的远场显微学技术。为这些技术建立统一的分类方案显然是令人向往的。我们论证指出,基于光学系统信息容量的现有分类方案难以轻易推广以涵盖例如 STED 显微学或基于单分子成像的技术。我们建议基于 Abbe 极限的重建进行分类。

关键词

引用

@article{arxiv.1606.05081,
  title  = {Note on the classification of super-resolution in far-field microscopy and information theory},
  author = {Oliver Passon and Johannes Grebe-Ellis},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1606.05081},
  year   = {2016}
}