非共振热导纳谱
材料科学
2014-12-15 v1
摘要
热导纳谱 (Thermal Admittance Spectroscopy, TAS) 已成为一种确定半导体中陷阱态密度和能级位置的流行技术。在陷阱态数量巨大 () 的极限情况下，费米能级钉扎破坏了 TAS 数据分析中所用的假设，导致对陷阱态密度的显著低估。在此，我们开发了用于检测并考量 TAS 测量中费米能级钉扎现象的工具。
引用
@article{arxiv.1412.4087,
title = {Non-Resonant Thermal Admittance Spectroscopy},
author = {Deniz Bozyigit and Vanessa Wood},
journal= {arXiv preprint arXiv:1412.4087},
year = {2014}
}
备注
This report is related to the PhD thesis of Deniz Bozyigit, submitted to ETH Zurich