深度非弹性散射截面不确定性：τ中微子外观测量

在对多味中微子敏感的实验中，分析仪器可能面临将相应截面不确定性相关或不相关处理的选择。本研究聚焦于对 mu 和 tau 中微子敏感实验中的强电中子散射 (CC DIS) 通道。我们评估了 $\nu_{\tau}$ 和 $\nu_{\mu}$ 截面的比值，并从基本的 parton 分布函数 (PDF) 中推导出其不确定性。我们发现，在能量超过5 GeV后，由 PDF 引起的截面比值不确定性小于3%；而在能量低于10 GeV的反中子中，可见更大的 (2-30%) 变动。这些结果表明，对于大气 tau 中微子外观测量分析，$\nu_{\tau}$ 和 $\nu_{\mu}$ DIS 截面的不确定性应进行耦合处理；而在能量较高、使用反中子束的长基线实验中，可能需要对两种味道的截面进行独立处理。我们进一步探讨了定义 DIS regime 开始阈值的不变 hadronic 质量在分析中的作用。我们认为，只有在同时应用于 DIS 和共振截面，并且考虑与其他 DIS 和共振截面参数的相关性后，才能将其影响纳入分析。