利用压缩真空态非侵入式测量腔参数
量子物理
2007-05-23 v2
摘要
我们提出并通过实验演示了一种通过将压缩真空注入光学腔来非侵入式测量腔参数的方法。该技术背后的原理是：当压缩场入射到腔上时，相对于载频的上、下量子边带之间的关联被破坏。该方法对超高 腔（如回音壁模式（WGM）腔）尤为有用，在这类腔中，光致非线性过程的吸收与散射妨碍了腔参数的精确测量。我们测得测试腔的线宽为 kHz，在不确定度范围内与经典测得的腔线宽（ kHz）一致。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0605207,
title = {Non-invasive Measurements of Cavity Parameters by Use of Squeezed Vacuum},
author = {Eugeniy E. Mikhailov and Keisuke Goda and Nergis Mavalvala},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0605207},
year = {2007}
}
备注
6 pages, 4 figures