非接触安德烈夫反射作为原子尺度超导性的直接探测手段
超导电性
2024-04-23 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
超导性的直接探测长期以来一直是点接触安德烈夫反射的一项关键优势。然而，其对原子尺度成像的适用性受到安德烈夫探针机械接触的限制。为此，我们提出了一种在隧穿结中探测安德烈夫反射的新方法，利用隧穿谱学和结的可调性来实现对安德烈夫散射的定量探测。该方法能够明确指认载流激发的超导起源，并探测原子尺度结中的高阶安德烈夫过程。此外，我们揭示了安德烈夫反射对自然缺陷（如台阶边缘）的显著敏感性，即便在经典超导体中也是如此。该方法为超导性质（包括无序超导体和相变邻近区）的纳米及原子尺度成像开辟了新路径。
引用
@article{arxiv.2202.02159,
title = {Non-contact Andreev reflection as a direct probe of superconductivity on the atomic scale},
author = {Wonhee Ko and Jose L. Lado and Petro Maksymovych},
journal= {arXiv preprint arXiv:2202.02159},
year = {2024}
}