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μ子衰变中新的参数化与发射中微子类型 II

高能物理 - 唯象学 2010-01-07 v4

摘要

在之前的论文中,提出了用于分析 μ+e+νeνμˉ\mu^{+} \to e^{+}\nu_{e}\bar{\nu_{\mu}} 衰变数据的新参数集以替代 Michel 参数。带有限中微子质量的 (VA)(V-A)(V+A)(V+A) 带流均被用于研究该衰变。在本文中,该参数化被推广到更一般的形式,并讨论了用于确定 (V+A)(V+A) 流贡献率的数据分析方法(最小二乘法)。我们发现参数集与物理量之间存在一种简单的原始关联形式。结果表明,Michel 参数是通过重新排列一项从该简单形式得到的其他参数集之一。我们推导了在分别使用简单形式和重排形式分析数据时获得关于未知物理量相同信息的条件。我们发现这些分析有可能得到不同的结果,因为等价条件非常微妙,QED 辐射修正需要谨慎处理。我们提出了一致的数据分析公式。将最小二乘拟合中使用简单形式得到的值与标准模型的预测值进行比较是有用的,因为两者之间不应存在较大差异,特别是在 Majorana 中微子的情况下。最后,我们指出在之前论文中提出的确定中微子类型的方法是不正确的。

关键词

引用

@article{arxiv.0704.2093,
  title  = {New Parameterization in Muon Decay and the Type of Emitted Neutrino. II},
  author = {Masaru Doi and Tsuneyuki Kotani and Hiroyuki Nishiura},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0704.2093},
  year   = {2010}
}

备注

21 pages