利用扫描磁显微镜表征磁性纳米颗粒的新方法
应用物理
2019-07-16 v1 仪器与探测器
摘要
在本文中，我们提出了一种对块体材料、微结构和纳米结构进行磁表征的新方法。我们通过扫描磁显微镜（SMM）对质量在数十 g 量级的小样品进行了研究，考察了通过化学沉淀（共沉淀）和液相脉冲激光烧蚀（PLA）合成的两种氧化铁（Fe3O4）磁性纳米颗粒分散体的磁性和形态特性。我们通过将磁化曲线和测量结果与被视为标准的商用磁强计获得的结果进行比较，评估了该技术的性能。饱和磁化和剩余磁化的误差分别约为 0.18 Am2/kg 和 0.6 Am2/kg。根据磁化曲线测量估算的纳米颗粒平均尺寸分布与通过传统透射电子显微镜（TEM）获得的结果一致。该技术可扩展用于测量和分析磁化曲线（磁滞回线），从而能够更准确地估算纳米颗粒的整体尺寸。
引用
@article{arxiv.1907.05908,
title = {New method for characterization of magnetic nanoparticles by scanning magnetic microscopy},
author = {Jefferson F. D. F. Araujo and Tahir and Soudabeh Arsalani and Fernando L. Freire and Gino Mariotto and Marco Cremona and Leonardo A. F. Mendoza and Cleanio Luz-Lima and Tommaso Del Rosso and Oswaldo Baffa and Antonio C. Bruno},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.05908},
year = {2019}
}
备注
16 pages