利用电离参数映射对星爆星系中电离光子逃逸的新约束
星系天体物理
2015-06-17 v2
摘要
星爆星系中电离辐射的命运是理解宇宙再电离的关键。然而，电离辐射逃逸分数所依赖的星系参数尚未被充分理解。电离参数映射提供了一种简单而有效的方法来研究星爆星系中的辐射转移。我们获得了六个邻近矮星爆星系（NGC 178、NGC 1482、NGC 1705、NGC 3125、NGC 7126 和 He 2-10）的 [S III]/[S II] 发射线比率图。窄带图像是使用拉斯坎帕纳斯天文台的 Maryland-Magellan 可调滤光片获得的。利用这些数据，我们此前报道了在 NGC 5253 中发现了一个光学薄的电离锥，在此我们也发现在 NGC 3125 中存在一个类似的电离锥。后者的张角为 40±5 度（0.4 球面度），表明电离辐射可能通过的通道对应于一个很小的立体角。此外，样本中有三个星系具有风和/或超级气泡活动，这本应有利于辐射逃逸，但它们却是光学厚的。这些结果支持了这样一种情景：取向偏差限制了我们在许多星爆星系中直接探测逃逸莱曼连续谱的能力。对光学薄和光学厚星系的恒星形成属性和历史的比较，与以下模型一致：高逃逸分数仅限于那些年龄足够大（> 3 Myr）以至于机械反馈已在星际介质中清除了光学薄通道，但又足够年轻（< 5 Myr）以至于电离恒星仍然存在的星系。
引用
@article{arxiv.1311.2227,
title = {New Constraints on the Escape of Ionizing Photons From Starburst Galaxies Using Ionization-Parameter Mapping},
author = {Jordan Zastrow and M. S. Oey and Sylvain Veilleux and Michael McDonald},
journal= {arXiv preprint arXiv:1311.2227},
year = {2015}
}
备注
Accepted for publication in ApJ