绝缘 La$_{1.95}$Sr$_{0.05}$CuO$_{4}$ 中软声子和漫散射的中子散射研究

利用中子散射技术研究了绝缘 La$_{2-x}$Sr$_{x}$CuO$_{4}$ ($x=0.05$) 中的软声子和漫散射。X 点声子从高温向结构转变温度 $T_{s}=410$ K 软化，Z 点声子在 200 K 以下再次软化。与超导 $x=0.15$ 化合物中观察到的行为（Z 点声子在 $T_c$ 以下硬化）相反，Z 点声子软化持续到低温。与 410 K 结构相变相关的漫散射出现在公度位置。这些结果突出了超导和绝缘样品之间有趣的差异。