高压下铁电体 Sn2P2S6 的中子散射研究
材料科学
2012-12-11 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
利用中子散射技术，在接近预期三临界 Lifshitz 点（p=0.18GPa, T=296K）的压强 - 温度范围内，研究了半导体 Sn2P2S6 单晶中的铁电相变。观测结果表明，在整个研究的压强范围（0.18 - 0.6GPa）内，存在直接的铁电 - 顺电相变。这些结果与许多早期工作中假设的相图明显不符，那些相图认为在 0.5GPa 压强范围内存在一个跨越数度甚至数十度的假设中间非公度相。各向异性准弹性漫散射的温度依赖性表明，TC 以上存在的极化涨落在有序相中显著减弱。尽管如此，假设序参量振幅按照三临界 Lifshitz 点处单轴铁电相变所预测的带有对数修正的幂律增长，可以极好地拟合 p=0.18GPa 时 (200) Bragg 反射强度的温度依赖性。
引用
@article{arxiv.1212.1674,
title = {Neutron scattering study of ferroelectric Sn2P2S6 under pressure},
author = {P. Ondrejkovic and M. Kempa and Y. Vysochanskii and P. Saint-Gregoire and P. Bourges and K. Z. Rushchanskii and J. Hlinka},
journal= {arXiv preprint arXiv:1212.1674},
year = {2012}
}