无宇宙方差的中微子质量

测量中微子质量的绝对尺度是利用近期宇宙学数据集最令人兴奋的机遇之一。两个对中微子质量敏感的量是尺度依赖的晕偏差 $b(k)$ 和由红移空间畸变推断的线性增长参数 $f(k)$，它们可以在无宇宙方差的情况下测量。与物质功率谱的振幅（其总具有有限误差）不同，$b(k)$ 和 $f(k)$ 的误差随示踪粒子数密度的增加而持续减小。本文给出了通过 $b(k)$ 和 $f(k)$ 对中微子质量敏感的星系和透镜场统计量的预测。除非可用示踪粒子密度非常高，否则来自光谱和测光星系样本的自与交叉功率谱对中微子质量的约束会被尺度依赖偏差削弱。在高密度极限下，使用多示踪粒子可克服宇宙方差，且对中微子质量的预测误差急剧缩小。实际上，利用 $b(k)$ 克服中微子质量的宇宙方差误差将是一项挑战，但此信号仍是中微子对结构形成影响的新探测手段，其本身令人关注。