观测到的μ子衰变中由中微子质量差引起的振荡

最近KARMEN实验对电子中微子计数率（从停止的μ子衰变中获得）的实时异常，通过采用一种中微子味旋转模型进行分析，在该模型中μ子中微子仅为两个质量本征态的叠加。基于实验电子中微子计数振荡，我们发现中微子质量分裂$|m_2^2-m_1^2|=(0.22\pm 0.02)(eV/c^2)^2$和味旋转角$\phi =0.34\pm 0.10$，两者均在95%置信区间内。